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一种表征光电倍增管和硅光电倍增管后脉冲与暗噪声的方法

仪器与探测器 2018-03-14 v2

作者: A. Butcher , L. Doria , J. Monroe , F. Retiere , B. Smith , J. Walding

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摘要

光电倍增管（PMT）和硅光电倍增管（SiPM）是对单光子敏感的探测器，广泛用于亚原子物理和医学成像中闪烁光和切伦科夫光的探测。本文提出了一种表征PMT和SiPM共有的两种主要噪声源——暗噪声和关联噪声（后脉冲）的方法。所提出的方法允许对后脉冲时间分布和暗噪声率进行不依赖于模型的测量。

关键词

光电倍增管硅光电倍增管后脉冲暗噪声单光子探测噪声表征时间分布

引用

@article{arxiv.1703.06204,
  title  = {A method for characterizing after-pulsing and dark noise of PMTs and SiPMs},
  author = {A. Butcher and L. Doria and J. Monroe and F. Retiere and B. Smith and J. Walding},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1703.06204},
  year   = {2018}
}

备注

Accepted by Nucl. Instr. Meth. A. 11 pages, 8 figures. Added application of method to SiPM data in new version