轻掺杂La$_{2-x}$Sr$_{x}$CuO$_{4}$中观察到的金属相：电阻共振研究
超导电性
2009-11-10 v1
摘要
在LaSrCuO从0.01到0.06的低掺杂范围内，研究了一条窄的电阻共振（EPR）线。该线与已知的宽线不同，源于探测Mn离子。该窄线可归因于材料中的金属区域，其强度在约150 K以下的散热过程中呈指数级增长。推导出的活化能 = 460(50) K几乎与在掺杂超导相中通过拉曼和中子散射发现的活化能相同。窄EPR线的强度遵循LaSrCuO$_{4}单晶电阻各向异性的相同温度依赖性。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0310152,
title = {A metallic phase in lightly doped La$_{2-x}$Sr$_{x}$CuO$_{4}$ observed by electron paramagnetic resonance},
author = {A. Shengelaya and M. Bruun and B. I. Kochelaev and A. Safina and K. Conder and K. A. Muller},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0310152},
year = {2009}
}
备注
4 pages, 4 figures