Ds+ 寿命的测量
高能物理 - 实验
2008-11-26 v2
摘要
presenting 对 Ds+ 寿命的高统计量测量，基于 Fermilab 固定靶 FOCUS 光子产生实验。我们描述了两种用于测量的衰变模式：Ds+ -> phi(1020)pi+ 和 Ds+ -> \bar{K}*(892)0K+。测得的寿命为 507.4 +/- 5.5 (stat.) +/- 5.1 (syst.) fs，使用 8961 +/- 105 个 Ds+ -> phi(1020)pi+ 和 4680 +/- 90 个 Ds+ -> \bar{K}*(892)0K+ 衰变。这是对现有世界平均值的显著改进。
引用
@article{arxiv.hep-ex/0504056,
title = {A Measurement of the Ds+ Lifetime},
author = {FOCUS Collaboration and J. M. Link},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0504056},
year = {2008}
}
备注
5 pages, 3 figures, 2 tables, submitted to PRL