量子点与量子环中形状依赖寿命与热逃逸之间的联系

H. ~T. ~Sullivan; J. ~H. ~Cole

量子点与量子环中形状依赖寿命与热逃逸之间的联系

介观与纳米尺度物理 2023-08-24 v1 量子物理

作者: H. ~T. ~Sullivan , J. ~H. ~Cole

摘要

理解半导体纳米结构的光学发射特性对于确定其器件适用性十分重要。发射依赖于材料及其几何形状，但也依赖于其他过程，例如从纳米结构中的热逃逸。尽管人们广泛认为涉及纵向光学声子的散射是热逃逸的关键过程，但为何某些量子结构热发射激子而其他结构热发射单电荷载流子仍不清楚。为研究此现象，我们从理论上确定了量子点与量子环的能级和温度-寿命关系。我们发现，要复现观测到的激子寿命温度依赖性，需要同时具备依赖于几何的本征谱和热逃逸机制。这表明几何形状可能是决定量子结构中主导热逃逸过程的重要因素。

关键词

量子点量子环热逃逸激子寿命几何依赖性半导体纳米结构

引用

@article{arxiv.2308.11843,
  title  = {A link between shape dependent lifetimes and thermal escape in quantum dots and rings},
  author = {H. ~T. ~Sullivan and J. ~H. ~Cole},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2308.11843},
  year   = {2023}
}

备注

9 pages, 6 figures

量子点与量子环中形状依赖寿命与热逃逸之间的联系

摘要

关键词

引用

备注

相关论文