粗糙糖粉弱冲击压实的 P-α 与中尺度模型校准比较

本研究比较了预测粗糙糖粉受弱冲击加载下粒子速度的校准策略，基于来自飞机板冲击实验的测量作为基准。评估了两种计算方法：一种是基于连续的 P-α Menikoff 模型，需要校准有效本构参数；另一种是显式解析粒子几何和孔隙率的中尺度仿真。两种模型都可以通过匹配测量的粒子速度历程来实现，但仅通过根本不同的校准机制。在 P-α 模型中，压力依赖的屈服强度至关重要，响应对参数选择如压碎出压力高度敏感。相比之下，中尺度仿真对参数调谐远不那么敏感，主要取决于孔隙率这一物理状态变量，通过二维中的等效映射表示三维 specimen。这些结果表明，连续本构参数是底层粒子尺度过程的有效替代物，而中尺度建模确定了孔隙率是宏观波前起始的主要控制因素，凸显了每种建模方法的不同校准路径和解释意义。