用于研究压电应变及其温度变化的电容位移系统
材料科学
2021-07-30 v1
摘要
构建了一套电容位移系统，用于以块体或薄膜的简单形式测量电场诱导的压电应变。该系统借助锁相检测可精确测定 2 pm 的交流位移，并能在 ±25 μm 范围内以亚纳米分辨率测量大位移。该系统还可用于测量 210–450 K 温度范围内的应变变化，从而能够评估压电常数的温度系数并研究相变对压电响应的影响。石英、PZT 陶瓷与薄膜以及 BaTiO 上的实验结果证实了所开发系统的能力。
引用
@article{arxiv.2104.02211,
title = {A capacitive displacement system for studying the piezoelectric strain and its temperature variation},
author = {Desheng Fu and Eiki Kakihara},
journal= {arXiv preprint arXiv:2104.02211},
year = {2021}
}
备注
11 pages, 8 figures