1996年关于CP违规比值$\epe$的分析

我们更新了1993年对CP违规比值$\epe$的分析，结合了若干输入参数的变化，特别是顶夸克质量的改进值。我们还考察了$\epe$对奇异夸克质量$m_s$的依赖性，结合最近的晶格计算得到的较低值。对输入参数在一个标准差内进行扫描后给出范围：$-1.2 \cdot 10^{-4} \le \epe \le 16.0 \cdot 10^{-4}$以及$0 \le \epe \le 43.0 \cdot 10^{-4}$（分别对应$\ms(\mc)=150\pm20~ \mev$和$\ms(\mc)=100\pm20~ \mev$）。若采用带高斯误差的实验测量值与理论输入参数，我们发现$\epe= ( 3.6\pm 3.4) \cdot 10^{-4}$以及$\epe= ( 10.4\pm 8.3) \cdot 10^{-4}$。我们也给出${\rm Im} V_{ts}^*V_{td}$的结果。分析$\epe$对各种参数的依赖性后发现，仅当$\ms(\mc)\le 100~\mev$且其他输入参数发生共谋时，$\epe$可达$(2-4) \cdot 10^{-3}$，且与NA31实验结果一致。