基于自主仿真的快速瞬态故障分级技术
硬件体系结构
2011-11-09 v1
摘要
极深亚微米和纳米技术显著增加了集成电路（IC）对辐射的敏感性。软错误目前正出现在地表工作的 IC 中。在许多应用中，容错（FT）在不久的过去并非必需，但现在却需要加固电路。利用平台 FPGA 对单粒子翻转（SEU）效应进行仿真以加速 FT 评估正受到关注。在这项工作中，提出了一种针对 SEU 效应的 FT 评估新仿真系统，通过在 FPGA 内执行整个评估过程并避免仿真器与主机之间的通信瓶颈，从而缩短评估时间。
引用
@article{arxiv.0710.4757,
title = {Techniques for Fast Transient Fault Grading Based on Autonomous Emulation},
author = {Celia Lopez-Ongil and Mario Garcia-Valderas and Marta Portela-Garcia and Luis Entrena-Arrontes},
journal= {arXiv preprint arXiv:0710.4757},
year = {2011}
}
评论
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