光子偏振退相干的芝诺与反芝诺效应

我们讨论一种简单且实验上可行的方案，其阐明了控制（“工程化”）库谱以及重复测量所引起的谱增宽的原理。这种控制可通过频繁测量实现被观测态准指数衰变的抑制（芝诺效应）或加速（反芝诺效应）。在所讨论的方案中，光子在两完美镜间来回反弹，每次经过一个偏振旋转器。水平与垂直偏振可视为二能级系统（TLS）的激发态与基态的类似物。在镜间插入偏振分束器与垂直偏振光子的吸收器，实现对偏振的测量。在电光偏振旋转器中获得的偏振角可随机涨落，例如通过噪声调制。无吸收器时，偏振随机化对应于 TLS 衰变到无限温度库。衰变的非马尔可夫性质源于随机化所需的多次往返。我们考虑吸收器偏振测量对此非马尔可夫衰变的影响，并发展了该系统中芝诺与反芝诺效应的理论。