具有非选择性测量的量子芝诺与反芝诺效应

在量子芝诺与反芝诺效应的研究中，通常考虑对系统执行等时间间隔的快速投影测量，以检查系统是否处于初始态。这些投影测量是选择性测量，因为测量结果被读出，并且在分析测量效应时仅考虑所有测量结果都对应初始态的情况。在本文中，我们将此类处理推广到考虑重复非选择性测量的效应——仅要求最终测量对应初始态，而我们不知道中间测量的结果。我们提出了一个通用形式体系，以推导此类非选择性测量下初始量子态的有效衰变率。重要的是，我们表明，只有在通常的布居衰变模型之外的模型中超越弱系统-环境耦合 regime 时，使用非选择性测量与仅考虑选择性测量的通常方法之间才存在差异。因此，我们将我们的形式体系应用于研究三个精确可解的系统-环境模型的量子芝诺与反芝诺效应：经历退相干的单个两能级系统、与两能级系统环境相互作用的单个两能级系统，以及经历退相干的大自旋。我们的结果表明，与重复选择性测量情形相比，存在非选择性测量时的量子芝诺与反芝诺效应可能有非常显著的差异。