面向微弱扩散辐射的 XMM-Newton 数据处理：质子阳光、曝光图及报告 EPIC MOS1 亮 CCD 杂质
天体物理学
2009-11-11 v1
摘要
我们报告了对XMM-Newton EPIC MOS和pn探测器现场性能的研究，重点关注质子阳光和视差对数据的影响。我们样本观测条件在暴露长度和背景强度方面差异极大，这使得我们能够检测到质子阳光光谱的广泛范围——与Lumb等人(2002)或Read等人(2003)提出的硬光谱阳光不同。我们还发现了MOS1观测中在低能段(E<0.5 keV)的一种尚未报告的杂质，即两个位于探测器边缘的CCD上测得强度显著增加。这种杂质在观测中导致“亮CCD”。其效应必须考虑到研究探测器受影响CCD上的探测源。就视差而言，我们报告了现场曝光图，并提出一种方法可针对用户可定义的能量带重复此计算。本文所呈现的所有结果都旨在使XMM-Newton能够研究极其微弱的扩展源，如近邻银河X射线光环或软X射线背景。
关键词
引用
@article{arxiv.astro-ph/0508137,
title = {XMM-Newton Data Processing for Faint Diffuse Emission: Proton Flares, Exposure Maps and Report on EPIC MOS1 Bright CCDs Contamination},
author = {J. Pradas and J. Kerp},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0508137},
year = {2009}
}
备注
18 pages, 11 figures, accepted for publication in A&A. Figures 10 and 11 accessible via http://www.astro.uni-bonn.de/~jpradas/