用于测量二氧化硅气凝胶密度均匀性的X射线照相技术
仪器与探测器
2012-12-17 v1 高能物理 - 实验
核实验
摘要
本文提出了一种新的X射线照相技术，用于测量在近聚焦环形成像切伦科夫探测器中用作辐射体的二氧化硅气凝胶的密度均匀性。为了在大面积探测器中获得高性能，辐射体的一个关键特性是单个气凝胶块的密度（即折射率）均匀性。在折射率n = 1.05时，我们对气凝胶砖横向平面方向折射率均匀性的要求在聚焦双层辐射体（具有不同折射率）方案中为|δ(n - 1)/(n - 1)| < 4%。我们将该照相技术应用于评估我们试生产的气凝胶以及作为参考的松下产品（SP-50）的密度均匀性，并确认它们在横向平面方向具有±1%以内的足够密度均匀性。测量结果表明，所提出的技术可以定量估计气凝胶的密度均匀性。
引用
@article{arxiv.1212.3560,
title = {X-ray radiographic technique for measuring density uniformity of silica aerogel},
author = {Makoto Tabata and Yoshikiyo Hatakeyama and Ichiro Adachi and Takeshi Morita and Keiko Nishikawa},
journal= {arXiv preprint arXiv:1212.3560},
year = {2012}
}
备注
To be published in Nucl. Instr. and Meth. A, 8 pages, 6 figures, 1 table