X射线交叉相关分析与无序系统的局域对称性 I：一般理论
无序系统与神经网络
2011-07-08 v1 软凝聚态物质
摘要
在最近的一篇文章中（P. Wochner等人，PNAS (2009)），胶体玻璃散斑衍射图案中环周围的X射线散射强度相关性显示出显著的~ cos(n φ)对环角坐标φ的依赖性，其中整数指数n取决于散射波矢的大小。通过保持夫琅禾费衍射极限完全一般性的解析推导，我们阐明了这一结果与先前键取向序X射线研究的关系，并为“角强度相关性提供了无序（或部分有序）系统中局域键排列信息”这一论断提供了坚实基础。我们详细分析了角交叉相关函数，并展示了其在研究无序系统广泛结构性质（从局域结构到远距离结构单元之间的空间相关性）中的适用性。
引用
@article{arxiv.1006.5382,
title = {X-ray cross-correlation analysis and local symmetries of disordered systems. I. General theory},
author = {M. Altarelli and R. P. Kurta and I. A. Vartanyants},
journal= {arXiv preprint arXiv:1006.5382},
year = {2011}
}
备注
26 pages, 6 figures