n 检测测试集的最坏情况与平均情况分析
硬件体系结构
2011-11-09 v1
摘要
由于测试集规模随 n 增加而增大，检测每个目标故障 n 次的测试集（n 检测测试集）通常仅针对受限的 n 值生成。我们进行了最坏情况分析和平均情况分析，以检查限制 n 对任意 n 检测测试集未建模故障覆盖率的影响。我们的分析独立于任何特定的测试集或测试生成方法，基于一组特定的目标故障和一组特定的非目标故障。分析表明，取决于电路特性，可能需要非常大的 n 值才能保证检测到所有非目标故障。我们讨论了这些结果的含义。
引用
@article{arxiv.0710.4735,
title = {Worst-Case and Average-Case Analysis of n-Detection Test Sets},
author = {Irith Pomeranz and Sudhakar M. Reddy},
journal= {arXiv preprint arXiv:0710.4735},
year = {2011}
}
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