无线多端口感测：基于 Virtual-VNA 的 OTA fixture 反射技术

我们发展了一种多端口背向调制技术，用于确定线性、被动、时不变多端口待测器件（DUT）的散射参数。一组“不可直接访问”（NDA）天线可切换连接至 DUT 或特定已知可调负载网络。通过一组“可访问”天线进行辐射和捕获，将信号耦合至 NDA 天线。首先，我们基于最近提出的“Virtual VNA”技术对可访问天线端口与 DUT 端口之间的 OTA fixture 进行表征；具体做法是将 NDA 天线连接至可调负载网络，对可访问天线端口进行各种负载网络配置下的散射测量。其次，将 NDA 天线连接至 DUT，对可访问天线端口进行散射测量。最后，对 OTA fixture 进行反射处理，以获取 DUT 的散射参数。我们在 2.45 GHz 处针对 1 端口 DUT 和 5 端口 DUT 进行实验验证，考虑到在真空室中存在的多径 OTA fixture。我们系统性地研究了可访问天线数量以及若干可行简化在系统模型和可调负载网络属性方面的影响。该无线多端口感测技术可用于 RFID 和无线生物电子学等领域。