逐线程跟踪效率图：Belle II 中心漂移气室的一种新诊断方法
仪器与探测器
2026-05-19 v1 高能物理 - 实验
摘要
大型探测器通常在通道层面进行监控（漂移时间、收集电荷和命中图），这验证了硬件，但未检验跟踪性能。本文提出一种针对 Belle II 中心漂移气室（CDC）的逐线程跟踪效率诊断方法。该方法直接类比于印度 neutrino 观测工程（INO）中在电阻丝网垫（RPC）堆栈中开发的基于外推的效率测量标准。将参考轨迹（螺旋线）外推至每根线层；包含相关命中点的交叉数比例定义为每根线的效率。该方法在 Belle II 数据质量监控（DQM）框架中实现，并通过控制死区条件的蒙特卡罗模拟进行验证，揭示了常规通道级诊断所无法察觉的局部跟踪故障。所得图谱为运行选择、操作和长期老化研究提供了直接反馈。
引用
@article{arxiv.2605.17381,
title = {Wire-by-Wire Tracking Efficiency Plots: A New Diagnostic for the Belle~II Central Drift Chamber},
author = {Suryanarayan Mondal},
journal= {arXiv preprint arXiv:2605.17381},
year = {2026}
}