斜参数S、T、U及其扩展揭示的双希格斯二重态模型：数值分析
高能物理 - 唯象学
2012-03-01 v1
摘要
斜参数S、T、U及其高阶扩展（V、W和X）是可观测量，它们结合电弱精确数据以量化与标准模型的偏差。这些参数在基无关的CP破坏双希格斯二重态模型（2HDM）中于单圈阶进行了计算。在幺正性所施加的限制内随机采样2HDM的标量参数空间，发现除T外，产生的斜参数值均在实验界限内。利用T的实验界限预测了带电希格斯玻色子质量以及带电希格斯玻色子与最重中性希格斯玻色子质量差（m_ch - m_3）的信息。特别地，发现2HDM预测-600 GeV < m_ch - m_3 < 100 GeV，且偏好m_ch > 250 GeV的值。随机采样产生的新物理质量尺度始终相当高，当Y_2 = m_W^2时，标量质量平均值落在400至800 GeV之间，尽管模型可调谐以产生轻中性希格斯质量（例如120 GeV）。因此，V、W和X产生的值远在0.01以内，证实了线性展开近似的稳健性。发现取模型的CP守恒极限不会显著影响斜参数生成的值。
引用
@article{arxiv.1110.3812,
title = {What the Oblique Parameters S, T, and U and Their Extensions Reveal About the 2HDM: A Numerical Analysis},
author = {Gerhardt Funk and Deva O'Neil and R. Michael Winters},
journal= {arXiv preprint arXiv:1110.3812},
year = {2012}
}
备注
17 pages, 31 figures