鬼成像的优势何在？用于 X 射线与电子成像的多路复用

鬼成像、傅里叶变换光谱学以及新近发展的 Hadamard 变换晶体学均为多路复用测量策略的实例。多路复用实验通过同时测量空间、时间或能量中的多个点来实现。这与系统扫描单点的通常方法形成对比。多路复用测量如何工作，又在何时具备优势？在此我们针对涉及 X 射线或电子的应用来解决这些问题。我们提出了一个定量框架，用于分析不同测量方案的预期误差与辐射剂量，从而实现比较。我们得出结论：在非常特定的情形下，多路复用可改善分辨率与信噪比。若信号具有稀疏表示，这些优势将变得更普遍且显著，并且可使用更少的辐射来完成测量。