弱值放大与衰变粒子的寿命
量子物理
2021-09-08 v3
摘要
我们研究了基于弱值放大技术改变所测得衰变粒子寿命的可能性，该技术中执行了一种称为后选择的额外滤波过程。我们在此给出的直接测量方案中的分析表明，对于简单两能级系统，寿命可比原始寿命延长三倍以上，而通过适当选择后选择也可任意缩短。该结果与我们先前关于 B 介子寿命可能延长（可在实验室观测到）的分析一致，并暗示弱值放大在常规所考虑精密测量之外具有新颖应用的余地。
引用
@article{arxiv.2105.12349,
title = {Weak value amplification and the lifetime of decaying particle},
author = {Yuichiro Mori and Izumi Tsutsui},
journal= {arXiv preprint arXiv:2105.12349},
year = {2021}
}
备注
11 pages, 4 figures