波长复用单次叠层成像
光学
2020-09-04 v1 应用物理
等离子体物理
摘要
能够在恶劣环境（如等离子体）中探测动态过程的诊断技术在过去几十年中基本未变。先进显微技术的发展将增进我们对这些事件相关物理的理解。近期发展的单次叠层成像（SSP）为实现精细的等离子体计量提供了一条途径。本文提出波长复用单次叠层成像（WM-SSP），其可实现高光谱、空间与时间分辨的相位与振幅衬度成像。此外，我们引入了在单次几何下所有波长复用模态共有的一类新探针约束，并给出了改进重建保真度与鲁棒性的 SSP 修改方案。WM-SSP 已通过实验实现，且仿真表明该技术能够解卷积等离子体中的电子与中性粒子密度。WM-SSP 将为新一代定量等离子体成像技术铺平道路。
引用
@article{arxiv.2009.01337,
title = {Wavelength-multiplexed single-shot ptychography},
author = {Jonathan Barolak and David Goldberger and Jeff Squier and Yves Bellouard and Charles Durfee and Daniel Adams},
journal= {arXiv preprint arXiv:2009.01337},
year = {2020}
}
备注
12 Pages, 6 Figures