基于飞行时间中子衍射仪的 Warren-Averbach 线宽分析
材料科学
2019-07-30 v1
摘要
众所周知的衍射线形宽化的 Warren-Averbach 理论被证明适用于从中子散裂源获得的飞行时间数据。该方法未经修改地应用于两个截然不同的实例：冷加工铁素体钢和受热应力作用的氧化铝-30% SiC 复合材料。利用铁素体钢在一系列长度上平均的均方根应变值来估算位错密度；发现其与通过电子背散射衍射分析从相似取向晶粒独立测得的几何必需位错密度十分吻合。文中描述了一种用于陶瓷的分析模型，以验证均方根应变的估算。
引用
@article{arxiv.1907.12076,
title = {Warren-Averbach line broadening analysis from a time of flight neutron diffractometer},
author = {David M. Collins and Angus J. Wilkinson and Richard I. Todd},
journal= {arXiv preprint arXiv:1907.12076},
year = {2019}
}
备注
Preprint under review