尾场问题及其对SXFEL测试装置中X射线光子脉冲的影响
加速器物理
2016-05-04 v1 光学
摘要
除了设计的束流加速外，真实自由电子激光（FEL）装置中由纵向尾场引起的电子能量变化，可能使FEL性能低于理论预期。本文借助模拟代码，针对上海软X射线自由电子激光（一个两级种子型FEL测试装置）计算了复杂波荡器段中由尾场诱导的束流能量损失。虽然第一阶段44 nm FEL输出几乎不受尾场影响，但发现约0.8 MeV的束流能量损失使第二阶段8.8 nm FEL的峰值亮度降低至原来的1/1.6，然而这可以通过每个波荡器单元的磁场微调来补偿。
引用
@article{arxiv.1512.05462,
title = {Wakefield issue and its impact on X-ray photon pulse in the SXFEL test facility},
author = {Minghao Song and Kai Li and Chao Feng and Haixiao Deng and Bo Liu and Dong Wang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1512.05462},
year = {2016}
}
备注
9 pages, 8 figures, 1 table