SXFEL 测试装置中波荡器段尾场的测量
加速器物理
2021-10-04 v3
摘要
在自由电子激光装置中，当电子束通过几乎每一种器件时都会产生尾场。大多数尾场是不期望的，并对电子束产生负面影响，意味着 FEL 性能的下降。对于 SXFEL 测试装置，复杂的布局与如此长波荡器段的累积效应导致了明显的尾场，其强度足以不可忽略。基于波荡器段入口与出口处的两个偏转腔及相应的剖面监视器，我们测量了波荡器段的尾场。本文给出了电阻壁尾场的理论与模拟结果，二者吻合良好。此外，给出了整体波荡器尾场的实验与模拟结果，显示差异很小。为探究该尾场对 FEL 放光的影响，我们给出了有尾场与无尾场的 FEL 模拟结果以作比较。在级联 EEHG-HGHG 模式的第一阶段中，对 44 nm FEL 几乎无影响，而在第二阶段中对 8.8 nm FEL 的影响变得关键，使脉冲能量和峰值功率分别降低 42% 和 27%，并展宽了带宽。
引用
@article{arxiv.2107.07465,
title = {Measurement of undulator section wakefield at the SXFEL test facility},
author = {He Liu and Hanxiang Yang and Nanshun Huang and Liang Xu and Zenggong Jiang and Duan Gu and Haixiao Deng and Bo Liu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.07465},
year = {2021}
}