纳米尺度扰动的可见化检测
光学
2019-09-13 v1
摘要
利用光对非破坏性检测纳米尺度扰动在诸多领域至关重要，包括材料表征、人类疾病诊断和半导体电子学。在本工作中，我们引入电磁峡谷和非共振放大的概念，并将其应用于传统的衍射极限光学显微镜，以直接观察纳米尺度体积中的单个扰动（半径 25 nm = 波长/31）。考虑到显微镜对科学发现和技术发展的广泛影响，我们这种具有深亚波长足迹的、基于非侵入成像的方法将产生深远后果，影响我们的日常生活。
引用
@article{arxiv.1909.05432,
title = {Visualizable Detection of Nanoscale Perturbations},
author = {Jinlong Zhu and Aditi Udupa and Lynford L. Goddard},
journal= {arXiv preprint arXiv:1909.05432},
year = {2019}
}
备注
54 pages, 16 figures