束敏感材料的非微扰阴极发光显微术
光学
2024-12-17 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
阴极发光显微术现已成为探测纳米材料光子特性的成熟且强大的工具，但在许多情况下，纳米光子材料很容易因达到合理阴极发光信噪比所需的电子束剂量而受损。二维材料已被证明特别容易受到束诱导修饰的影响，这既给高空间分辨率测量带来了障碍，也为量子光子系统的束诱导图案化提供了机会。本文将全色锐化技术应用于阴极发光显微术，以应对这些挑战，并通过实验证明了全色锐化在束敏感材料的微扰最小化高空间分辨率光谱成像中的前景。
引用
@article{arxiv.2412.11413,
title = {Non-perturbative cathodoluminescence microscopy of beam-sensitive materials},
author = {Malcolm Bogroff and Gabriel Cowley and Ariel Nicastro and David Levy and Yueh-Chun Wu and Nannan Mao and Tilo H. Yang and Tianyi Zhang and Jing Kong and Rama Vasudevan and Kyle P. Kelley and Benjamin J. Lawrie},
journal= {arXiv preprint arXiv:2412.11413},
year = {2024}
}