利用强度涨落进行甚长基线干涉测量及引力透镜观测：基于强度自相关的分析

最近引入了一种新颖的干涉测量技术，该技术利用二次探测器（天文学中常用的一种探测器）电流涨落的频谱。相较于经典干涉测量，它具有显著优势。它可用于观测标准技术无法探测到的引力透镜，也可用于进行甚长基线干涉测量 (VLBI)。尽管最初基于波相互作用效应的理论分析是严谨的，但不易理解。因此，本文利用强度涨落的自相关进行了一种更简单的分析，更易于理解。该分析基于为验证原始理论而开展的已发表实验。自相关分析还验证了基于自相关的简单数值技术，用于模拟源的角强度分布。自相关技术也使得信号检测更为简单。实际上，引力透镜应用是目前可用望远镜即可 readily 实现的。我们描述了一个实际案例，表明目前可用的 VLBI 射电天文数据可用于观测宏透镜类星体中的微透镜和毫透镜效应。这些观测可能提供关于透镜星系中暗物质子结构的信息。