一种新型甚长基线天文强度干涉仪

本文提出了一种新型甚长基线天文干涉仪，该干涉仪利用二次型探测器（一种常见的天文探测器）所测强度随时间变化的涨落。该技术所依据的理论已通过实验室实验得到验证。其突出的主要优势在于：在保持镜面间距恒定的情况下，天体物体的角结构可直接由探测器测得的强度涨落谱的极小值可见度随涨落频率的变化来确定。这使得能够采用极长的基线，从而实现具有高角分辨率的简单装置。另一个主要优势是能够更高效地利用望远镜时间，因为仅需在单一基线上进行观测，而振幅干涉仪和强度干涉仪则需要在不同基线上进行多次观测。由于无需移动望远镜，该技术还能探测更快的时间变化，因为移动望远镜会为可探测的时间变化设定下限。该技术利用了波相互作用效应，因此具有与强度干涉测量法的一些共同特征。与强度干涉测量法类似，该技术的一个缺点是在高频（例如可见光）观测时需要强源。这在射电区域是一个较小的缺点。在高频下，由于与强度干涉测量法一样，其对所用镜面光学质量的要求远低于振幅干涉测量法，因此这一缺点得到了缓解，使得在光学区域可以使用质量较差的大型反射镜（例如切伦科夫望远镜）。