利用脉冲形状分析提高电阻阳极微通道板探测器的位置分辨率
仪器与探测器
2015-12-09 v1
摘要
采用数字信号处理技术研究了电荷分配和上升时间分析在电阻阳极（RA）耦合微通道板探测器（MCP）中的联合使用。与通常使用RA各角相对电荷的方法不同，这种联合方法显著提高了位置分辨率。利用模拟信号处理的传统电荷分配分析提供170 μm（半高全宽）的位置测量分辨率。通过利用上升时间与位置之间的相关性，我们获得了92 μm（半高全宽）的测量分辨率，对应于单Z堆叠MCP探测器的本征分辨率64 μm（半高全宽）。
引用
@article{arxiv.1509.02837,
title = {Using pulse shape analysis to improve the position resolution of a resistive anode microchannel plate detector},
author = {Davinder Siwal and B. B. Wiggins and R. T. deSouza},
journal= {arXiv preprint arXiv:1509.02837},
year = {2015}
}
备注
6 pages, 5 figures