利用位错探测厚自由悬挂液晶薄膜中的表面重构
软凝聚态物质
2015-10-28 v1
摘要
表面相互作用可导致自由悬挂的薄液晶薄膜形成与体材料不同的相，但厚膜表面的行为尚不清楚。刃型位错可用作体中心与重构表面之间边界的标志。我们使用非接触模式原子力显微镜测定了结晶 B 相中自由悬挂的厚 4-n-庚氧基苄叉-4-n-庚基苯胺 (7O.7) 薄膜表面下方刃型位错的深度。发现了高度为 3.0 ± 0.1 nm 的台阶，其宽度在 56°C 至 59°C 间随温度变化。利用刃型位错上方液晶层轮廓的应变模型来估计位错深度，我们发现随着温度从 59°C 降至 56°C，重构表面层数从 4 层增加到 50 层。这一趋势与 7O.7 自由悬挂薄膜依赖于厚度的相图中的相边界行为相吻合，表明表面可能重构为近晶 F 区域。
引用
@article{arxiv.1508.03614,
title = {Using dislocations to probe surface reconstruction in thick freely suspended liquid crystalline films},
author = {J. A. Collett and Daniel Martinez Zambrano},
journal= {arXiv preprint arXiv:1508.03614},
year = {2015}
}
备注
5 pages, 6 figures