UPV/EHU直接发射率测量的更新方法与不确定度预算
仪器与探测器
2020-07-14 v2 光学
摘要
本工作报道了UPV/EHU直接发射率测量装置的升级。仪器改进包括高真空系统和更宽温度范围(300–1273 K)等。方法学进展包含带有更新参数的精炼测量方程、重新制定的符合ISO的不确定度预算，以及由光谱数据精确计算总发射率的蒙特卡洛程序。这些升级已在金属与陶瓷材料的测量中得到演示与验证。本工作所得结果适用于类似的发射率测量实验装置，以报告可靠的发射率数据。
引用
@article{arxiv.1910.08315,
title = {Updated measurement method and uncertainty budget for direct emissivity measurements at UPV/EHU},
author = {Iñigo González de Arrieta and Telmo Echániz and Raquel Fuente and Jose Miguel Campillo-Robles and Josu M. Igartua and Gabriel A. López},
journal= {arXiv preprint arXiv:1910.08315},
year = {2020}
}
备注
35 pages, references added, uncertainty calculations revised, new figures