解析硅锗化物光相变材料中的失效机制并寻求规避方案
光学
2024-09-20 v1 材料科学
摘要
硅锗化物光相变材料 (PCM) 因其在可编程光子学、光学类比计算、主动超表面等领域的日益增长的应用前景而备受关注。然而，其端urance 有限或循环寿命问题正日益成为这些应用实际部署的瓶颈。为此，我们系统地研究了面向红外光子学应用的常见光学 PCM GeSbSeTe (GSST) 在符合贴近芯片光子器件应用的电热切换配置下，其循环失效机制。我们进一步提出了一套基于对失效机制洞察的设计准则，并成功实现将 GSST 器件的端urance 提升至超过 67,000 次循环。
引用
@article{arxiv.2409.12313,
title = {Unravelling and circumventing failure mechanisms in chalcogenide optical phase change materials},
author = {Cosmin Constantin Popescu and Kiumars Aryana and Brian Mills and Tae Woo Lee and Louis Martin-Monier and Luigi Ranno and Jia Xu Brian Sia and Khoi Phuong Dao and Hyung-Bin Bae and Vladimir Liberman and Steven Vitale and Myungkoo Kang and Kathleen A. Richardson and Carlos A. Ríos Ocampo and Dennis Calahan and Yifei Zhang and William M. Humphreys and Hyun Jung Kim and Tian Gu and Juejun Hu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2409.12313},
year = {2024}
}