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能隙系统中载流子弛豫异常的统一解释

介观与纳米尺度物理 2012-02-14 v1 超导电性

摘要

我们发展了一种理论来描述具有能隙打开的低温有序态中光激发载流子的能量弛豫,并通过量化不同载流子 - 声子散射对弛豫率的贡献,制定了过渡温度 TcT_{\mathrm{c}} 附近及以下的载流子弛豫时间 τ\tau。该理论解释了能隙系统中 τ\tau 的异常实验观测结果。横向声学 (TA) 声子模式在载流子弛豫中起着至关重要的作用;其热容量决定了 TcT_{\mathrm{c}} 附近的 τ\tau 发散。该理论通过将富勒烯聚合物的 τ\tau 拟合到理论曲线上得到了验证。

关键词

引用

@article{arxiv.1202.2635,
  title  = {Unifying explanation for carrier relaxation anomaly in gapped systems},
  author = {Shota Ono and Hiroyuki Shima and Yasunori Toda},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1202.2635},
  year   = {2012}
}

备注

5 pages, 3 figures