拓扑线节点半金属 HfSiS 中意外的狄拉克节点弧
介观与纳米尺度物理
2016-09-21 v1 强关联电子
摘要
我们对 HfSiS 进行了角分辨光电子能谱测量，该材料被预测为具有方形 Si 晶格的拓扑线节点半金属。我们发现了一个准二维费米面，承载着体节点线，同时在布里渊区角处的表面态表现出相当大的 Rashba 劈裂和由多体相互作用导致的能带质量重整化。最值得注意的是，我们在区域对角线附近的体节点附近，发现了一种在 k 空间中一维延伸的意外类狄拉克色散——狄拉克节点弧。这些新颖的狄拉克态位于表面，可能与体态的杂化有关，但目前我们对其起源尚无解释。这一发现对拓扑线节点半金属的理论理解提出了一个引人入胜的挑战。
引用
@article{arxiv.1606.07957,
title = {Unexpected Dirac-Node Arc in the Topological Line-Node Semimetal HfSiS},
author = {D. Takane and Z. Wang and S. Souma and K. Nakayama and C. X. Trang and T. Sato and T. Takahashi and Yoichi Ando},
journal= {arXiv preprint arXiv:1606.07957},
year = {2016}
}
备注
5 pages, 4 figures (paper proper) + 2 pages, figures (supplemental material)