理解双光梳干涉测量中的光电探测器非线性
光学
2021-06-16 v1 仪器与探测器
摘要
本文描述光电探测器非线性对双光梳光谱仪的影响，并与基于迈克尔逊的傅里叶变换光谱仪（FTS）进行比较。双光梳方法中发生的光学采样（其与 FTS 的关键区别）导致非线性光谱伪像的光学混叠。给出了测量的线性和非线性干涉图以验证该模型。提供了 HCN 的吸收谱线以理解非线性对光谱测量的影响。
引用
@article{arxiv.2106.08304,
title = {Understanding photodetector nonlinearity in dual-comb interferometry},
author = {Philippe Guay and Alex Tourigny-Plante and Vincent Michaud-Belleau and Nicolas Bourbeau Hébert and Ariane Gouin and Jérôme Genest},
journal= {arXiv preprint arXiv:2106.08304},
year = {2021}
}
备注
5 pages, 8 figures