多通道模拟电子探测器中计数率非线性的效应、测定与校正
仪器与探测器
2015-05-12 v1 强关联电子
摘要
探测器计数率非线性尽管是一个已知问题，在现代使用模拟强度尺度的多通道电子探测方案的角度分辨光电子能谱分析中常被忽略。我们关注一种近乎普遍存在的“反饱和”非线性，它使能谱虚假地尖锐且美观。这些人为增强的能谱限制了对数据的准确定量分析，导致错误的谱权重、费米能量和峰宽。我们提出一种快速检测并校正这种非线性的方法。该算法可适用于广泛应用的非线性系统，不限于光电子能谱。
引用
@article{arxiv.1505.02171,
title = {Effects, Determination, and Correction of Count Rate Nonlinearity in Multi-Channel Analog Electron Detectors},
author = {T. J. Reber and N. C. Plumb and J. A. Waugh and D. S. Dessau},
journal= {arXiv preprint arXiv:1505.02171},
year = {2015}
}