揭示SMEFT中LEFT的根源
高能物理 - 唯象学
2021-10-15 v2
摘要
在电弱尺度以下的能量处，重子数 和轻子数 破坏过程对于识别标准模型紫外拓展的本质具有重要意义。紫外理论在低频测量上的印记可利用低能有效理论(LEFT)的理论框架高精度计算。以 和算符维数作为分类特征，我们构建了一个将LEFT的算符类与标准模型有效理论(SMEFT)相连的网络。遵循该网络的链接，由LEFT有效算符描述的接触相互作用可被明确地嵌入到SMEFT的算符中，这使我们能够约束紫外理论的可能实现。反过来，这有助于优先安排低能测量，以全面检验所有类别的LEFT和SMEFT算符。
引用
@article{arxiv.2011.00859,
title = {Uncovering the Root of LEFT in SMEFT},
author = {Joydeep Chakrabortty and Suraj Prakash and Shakeel Ur Rahaman and Michael Spannowsky},
journal= {arXiv preprint arXiv:2011.00859},
year = {2021}
}
备注
7 pages, 4 figures, Accepted version