通过移相干涉术明确识别单层磷烯
材料科学
2014-12-23 v1
摘要
单层磷烯提供了一个独特的二维 (2D) 平台来研究基本的多体相互作用。然而，由于其高度不稳定性，明确识别单层磷烯一直是个难题。因此，许多重要的基本性质，如激子动力学，仍未得到充分探索。我们报告了一种基于光学干涉术的快速、非侵入性且高精度的方法来确定磷烯的层数，并通过可靠的光致发光测量确认了结果。基于测量的光学带隙和计算的电子能隙，我们确定 SiO2/Si 衬底上单层磷烯的激子结合能约为 0.4 eV，这与理论预测吻合良好。我们的结果为利用单层磷烯探索基本现象和新型光电应用开辟了新途径。
引用
@article{arxiv.1412.6701,
title = {Unambiguous identification of monolayer phosphorene by phase-shifting interferometry},
author = {Jiong Yang and Renjing Xu and Jiajie Pei and Ye Win Myint and Fan Wang and Zhu Wang and Shuang Zhang and Zongfu Yu and Yuerui Lu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1412.6701},
year = {2014}
}
备注
arXiv admin note: substantial text overlap with arXiv:1411.6124, arXiv:1411.6200