利用直流光电探测器测量光学系统的超宽频率响应

精确了解光学器件的频率响应对于其在大多数应用中的可用性至关重要。确定光学系统（例如光学腔或波导调制器）频率响应的传统方法通常依赖校准的宽带光电探测器或复杂的射频混频操作。随着这些器件带宽持续增加，对无带宽限制或不需要预先校准器件的表征方法的需求日益增长。我们展示了一种用于光学系统（由光学腔和高速波导调制器组成）的新校准技术，其不受探测器带宽限制，且不需要校准的光电探测器或调制器。我们使用低频（DC）光电探测器监测腔的光学响应随调制频率的变化，这也用于确定调制器的频率响应。对频率相关调制深度的了解使我们能更精确地确定腔的特性（自由光谱范围和线宽）。通过测量由非线性晶体存在引起的正交偏振腔模的不同谐振频率，证明了我们技术的精确性和可重复性。一旦使用该简单方法对调制器进行了表征，任何无源光学元件的频率响应都可被确定。