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利用波长扫描干涉术测量动态干涉仪基线扰动

仪器与探测器 2019-05-01 v1 光学

摘要

一种用于测量干涉仪光程差(OPD)绝对值快速振荡的新方法已被开发。利用频率扫描干涉术原理记录干涉仪谱函数,并从中计算 OPD。所提方法能够以远高于光谱采集速率的频率捕获绝对基线变化。与将单一基线指示关联到所记录光谱的传统方法不同,本方法对光谱应用一种专门开发的解调流程。这提供了捕获光谱采集期间所发生的基线变化的能力。一个描述可记录基线变化参数限制的分析模型被建立。对所提方法与所建模型进行了实验验证。

关键词

引用

@article{arxiv.1904.13134,
  title  = {Measurement of dynamic interferometer baseline perturbations by means of wavelength-scanning interferometry},
  author = {Nikolai Ushakov and Leonid Liokumovich},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1904.13134},
  year   = {2019}
}

备注

11 pages, 4 figures