顶夸克启发的左右对称模型中的普遍CP破坏

我们探索了一个左右对称模型中的CP破坏，该模型通过将双双重态Higgs VEV固定为 $m_b:m_t$ 的比率，以相对自然的方式再现了夸克质量和CKM旋转角度的层级结构。我们的模型相当普遍，允许CP被Higgs VEV和Yukawa耦合两者破坏。尽管具有这种普遍性，CP破坏可以用两个基本相位来参数化。该模型一个非常有趣的特征是，发现右旋扇区中的混合角与左旋对应部分在非常好的近似下相等。此外，通常的CKM相位 $\delta_L$ 的右旋类似物被发现满足关系 $\delta_R \approx \delta_L$。通过使用自适应蒙特卡洛算法探索模型的参数空间，并通过强制执行来自K和B系统的实验约束来确定参数空间中的允许区域。这种求解方法使我们能够针对模型中两个基本CP奇相位的各种组合，数值评估左旋和右旋CKM矩阵。我们发现，所有实验约束都可以通过右旋W和味改变中性Higgs质量分别低至约2 TeV和7 TeV来满足。