UTe₂ (011) 表面的二维平带及其超导性扫描透射显微镜测量的意义
超导电性
2026-03-09 v2
摘要
扫描透射显微镜(STM)测量已在UTe₂易 cleavage 的 (011) 表面上广泛进行，使用常规金属 Tip 和超导性 Tip。鼓励这些实验后，我们理论上研究了UTe₂ (011) 表面的拓扑表面态。我们发现，在 态中，出现一个二维接近平带，导致表面态密度出现显著的零能峰。该平带由两个关键机制支持：(i) 多个动量处定义的非平凡 Berry 相位导致低能带隙态，(ii) 弱自旋守恒允许间隙函数获得相位绕转。进一步，为了探讨最近使用超导性 Tip 的 STM 实验中观察到的零偏置峰与拓扑表面态之间的关系，我们计算了在UTe₂ (011) 表面与 波超导体之间的势垒中非平衡直流隧穿电流。我们的结果为UTe₂ 实现的超导配对对称性提供了至关重要的见解。
引用
@article{arxiv.2504.16166,
title = {Two-dimensional flat band on the (011) surface of UTe$_2$: Implication for STM measurements with a superconducting tip},
author = {Jushin Tei and Takeshi Mizushima and Satoshi Fujimoto},
journal= {arXiv preprint arXiv:2504.16166},
year = {2026}
}
备注
15 pages