拓扑超导体的隧穿谱学研究
超导电性
2016-03-08 v1
摘要
计算了正常金属/绝缘体/超导体 (N/I/S) 结的隧穿电导谱，以确定隧穿谱学在拓扑超导性研究中的潜力。拓扑超导体的一个独特特征是其中形成了无能隙边缘态。由于 N/I/S 结的电导对这些边缘态的形成非常敏感，因此可以通过边缘态检测来识别拓扑超导性。在此，分析了费米面各向异性和外加磁场对电导谱的影响，以收集有助于识别实际材料拓扑性质的迹象。
引用
@article{arxiv.1308.2014,
title = {Tunneling spectroscopy of topological superconductors},
author = {Satoshi Kashiwaya and Hiromi. Kashiwaya and Kohta. Saitoh and Yasunori. Mawatari and Yukio. Tanaka},
journal= {arXiv preprint arXiv:1308.2014},
year = {2016}
}
备注
17pages, 1 table, 6 figures, submitted to Physica E