TriLock：具有可调错误性与抗 SAT 及移除攻击能力的 IC 保护方案
密码学与安全
2022-01-19 v1 系统与控制
系统与控制
摘要
时序逻辑锁定在过去十年中作为一种保护时序电路免受逆向工程的方法被研究。然而，大多数现有的时序逻辑锁定技术受到日益复杂的基于 SAT 的攻击的威胁，后者高效利用对 SAT 求解器的输入查询来排除错误密钥，以及基于结构分析的移除攻击。在本文中，我们提出 TriLock，一种同时应对这些漏洞的时序逻辑锁定方法。TriLock 能够实现高且可调的功能错误性，同时仍保证基于 SAT 的攻击中求解器需要指数级查询。此外，它采用状态重编码方法掩盖原始状态寄存器与锁定方法插入的寄存器之间的边界，从而更难检测和移除锁定相关组件。
引用
@article{arxiv.2201.05943,
title = {TriLock: IC Protection with Tunable Corruptibility and Resilience to SAT and Removal Attacks},
author = {Yuke Zhang and Yinghua Hu and Pierluigi Nuzzo and Peter A. Beerel},
journal= {arXiv preprint arXiv:2201.05943},
year = {2022}
}
备注
Accepted at Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE), 2022