用于气泡等离子体诊断的HgI$_2$晶体的陷阱激活能与输运参数
核实验
2007-05-23 v1
摘要
最近通过中子测量获得的含氘液体中中子诱发声致空化数据表明，在某些特殊情况下可能产生非常高的温度。为了研究所谓气泡等离子体的温度，需要具有X射线微探测器，这种探测器可以基于室温半导体探测器制备，特别是基于碘化汞（--HgI）晶体。鉴于这一目标，通过等温电流方法研究了凝胶生长的（--HgI）晶体的性质，并估算了陷阱参数。结果表明，尽管需要改进晶体生长技术，但这一方法对于制备气泡等离子体诊断所需的中等能量分辨率的X射线探测器具有前景。{\it PACS:} 29.40.Wk; 52.70.La {\it 关键词:} X射线和γ射线测量；半导体探测器；碘化汞；等离子体诊断；空化
引用
@article{arxiv.nucl-ex/0301006,
title = {Trap Activation Energy and Transport Parameters of HgI$_2$ Crystals for Bubble-Plasma Diagnostics},
author = {M. B. Miller and V. F. Kushniruk and A. V. Sermyagin},
journal= {arXiv preprint arXiv:nucl-ex/0301006},
year = {2007}
}
备注
3 pages, 1 table