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利用高分辨率全色影像追踪现代中国工业增长:一种序列卷积方法

计算机视觉与模式识别 2024-05-21 v3 计算机与社会 机器学习

摘要

由于在难以进入的地区发展数据不足或难以获取,遥感数据是有意的相关方收集经济增长信息的重要工具。迄今为止,尚无研究利用深度学习在单个站点层面估算工业增长。在本研究中,我们利用高分辨率全色影像,通过多层次计算机视觉框架估算中华人民共和国 419 个工业站点随时间的开发情况。我们提出了两种估算开发的方法:(1)通过 Mask R-CNN 分割算法估算的结构面积覆盖,以及(2)利用可见光红外成像辐射仪套件(VIIRS)的可见光与红外辐射直接插补开发情况。由这些方法生成的标签被 comparative 评估与测试。在一个跨越 19 年、包含 2,078 张 50 cm 分辨率影像的数据集上,结果表明可利用高分辨率 daytime 影像估算工业发展的两个维度,包括(a)工业发展的总平方米数(平均误差 0.021 km2\textrm{km}^2),以及(b)灯光辐射度(平均误差 9.8 nWcm2sr\mathrm{\frac{nW}{cm^{2}sr}})。对技术的趋势分析显示,由 Mask R-CNN 标注的 CNN-LSTM 得出的估算与真值测量最为接近。Mask R-CNN 估算从最旧影像到最新影像在所有站点均呈正增长,平均变化为 4,084 m2\textrm{m}^2

关键词

引用

@article{arxiv.2301.09620,
  title  = {Tracking the industrial growth of modern China with high-resolution panchromatic imagery: A sequential convolutional approach},
  author = {Ethan Brewer and Zhonghui Lv and Dan Runfola},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2301.09620},
  year   = {2024}
}

备注

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