跟踪Euclid VIS探测器在太空中1年辐射损伤
仪器与探测器
2024-07-02 v1
摘要
由于L2处的太空辐射环境，ESA的Euclid任务将在其生命周期内受到大量高能粒子的照射。这些粒子可以通过在硅晶体中创建缺陷来损坏探测器。这些缺陷以几种方式降低返回图像的一个例子是损坏电荷传输效率，表现为数据图像中的读出痕迹。这对于Euclid VIS仪器来说是一个问题，因为该仪器旨在以非常高的精度测量星系的形状。通过称为陷阱泵送的特殊时钟技术，可以检测和特征化CCD中的单个缺陷。作为首个具备此功能的仪器，它将提供关于辐射诱导缺陷创建和演化的新见解，并为科学数据的数据辐射损伤校正提供输入。我们呈现了Euclid VIS CCD辐射损伤的状态以及其在太空中第一年的演化情况。
引用
@article{arxiv.2407.01268,
title = {Tracking radiation damage of Euclid VIS detectors after 1 year in space},
author = {Jesper Skottfelt and Matt Wander and Mark Cropper and Ben Dryer and David J. Hall and Richard Hayes and Bradley Kelman and Tom Kitching and Ralf Kohley and David Lagattuta and Zoe Lee-Payne and Patricia Liebing and Richard Massey and Henry Joy McCracken and Reiko Nakajima and James Nightingale},
journal= {arXiv preprint arXiv:2407.01268},
year = {2024}
}
备注
Submitted to the Proceedings for the SPIE Space Telescopes and Instrumentation 2024: Optical, Infrared, and Millimeter Wave, paper no. 13092-24, 10 pages, 6 figures,