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共振电离质谱法对钾的痕量元素分析

原子物理 2015-05-13 v2

作者: Yoshihiro Iwata , Yoshizumi Inoue , Makoto Minowa

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摘要

搭建了一台由四极质谱仪（QMS）和两个激光二极管组成的简单共振电离质谱仪，用于钾的痕量分析。通过比较同一QMS中共振电离和电子碰撞电离的产额，估算了整体探测效率。借助原子能级的同位素位移，清晰地区分了 $^{39}\rm K$ 、 $^{40}\rm K$ 和 $^{41}\rm K$ 。

关键词

共振电离质谱法痕量元素分析钾四极质谱仪同位素位移

引用

@article{arxiv.0808.4020,
  title  = {Trace Element Analysis of Potassium by Resonance Ionization Mass Spectrometry},
  author = {Yoshihiro Iwata and Yoshizumi Inoue and Makoto Minowa},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0808.4020},
  year   = {2015}
}

备注

14 pages, 9 figures, submitted to JJAP