走向量子电路中双模相关线宽的量化
量子物理
2025-08-01 v1
摘要
本文旨在量化行波参量放大器（TWPA）中双模相关的线宽。我们研究了由数据采集和处理引起的伪影（如窗效应和采集时间），以了解它们对这些相关线宽估计的影响。研究结果强调了采集参数在优化双模相关测量中的重要性，从而增强了量子应用中的器件表征。
引用
@article{arxiv.2503.07212,
title = {Towards Quantifying Two-Mode Correlation Linewidths in Quantum Circuits},
author = {Alessandro Alocco and Andrea Celotto and Luca Fasolo and Bernardo Galvano and Emanuele Palumbo and Luca Oberto and Luca Callegaro and Felice Francesco Tafuri and Patrizia Livreri and Emanuele Enrico},
journal= {arXiv preprint arXiv:2503.07212},
year = {2025}
}