非均匀折射率剖面分布的量子增强成像
光学
2020-09-21 v1 量子物理
摘要
本工作中，量子计量技术被应用于具有非均匀空间折射率剖面分布的物体成像。研究表明，当使用“双光束态”（Twin Beam State, TWB）时，经典精度可获得显著提升。特别是利用在参量下转换（Parametric Down Conversion, PDC）过程中自然产生的多模空间关联，可实现复杂空间剖面分布的二维重建，从而实现增强成像。其思路是利用其中一束空间多模光束探测样品，另一束作为参考以降低噪声。类似模型也可用于描述波前畸变测量。该模型旨在随后进行此种增强测量方案的首次实验演示。
引用
@article{arxiv.1911.07039,
title = {Quantum Enhanced Imaging of Non-Uniform Refractive Profiles},
author = {Giuseppe Ortolano and Ivano Ruo Berchera and Enrico Predazzi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1911.07039},
year = {2020}
}