迈向亚ppm精度的费米常数测量
高能物理 - 实验
2010-06-22 v1
摘要
费米常数G_F描述了弱力的强度，最精确的测定来源于正μ子的平均寿命tau_mu。理论上的进展已将由tau_mu计算G_F的理论不确定度降低至十分之几的百万分率（ppm）。G_F剩余的不确定度完全来自实验，并由tau_mu的不确定度主导。MuLan实验旨在将μ子寿命测量至百万分率的精度，这比上一代实验的精度提高了二十倍以上。2007年，我们报告了一个中间结果，tau_mu=2.197013(24)微秒（11 ppm），与先前的世界平均值非常吻合。该平均寿命是利用脉冲表面μ子束流停止在铁磁靶中，并被对称闪烁体探测器阵列包围而测得的。自该中间测量以来，探测器配备了波形数字化仪，μ子束流率和束流熄灭率均有所提高，并且在不同的靶上获取了两个数据集，每个数据集包含超过10^12次μ子衰变。这些数据将带来G_F优于百万分率的新测定。
引用
@article{arxiv.1006.3982,
title = {Toward a sub-ppm measurement of the Fermi constant},
author = {David M. Webber},
journal= {arXiv preprint arXiv:1006.3982},
year = {2010}
}
备注
MORIOND Electroweak 2010 proceedings, for the MuLan Collaboration